SN74BCT8374ADWR
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| Numero parte | SN74BCT8374ADWR |
| PNEDA Part # | SN74BCT8374ADWR |
| Descrizione | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC |
| Produttore | Texas Instruments |
| Prezzo unitario | Richiedi un preventivo |
| Disponibile | 7.290 |
| Magazzini | Shipped from Hong Kong SAR |
| Consegna stimata | dic 25 - dic 30 (Scegli Spedizione rapida) |
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SN74BCT8374ADWR Risorse
| Brand | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Numero di parte | SN74BCT8374ADWR |
| Categoria | Semiconduttori › CI logici › Logica - Specialità Logica |
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SN74BCT8374ADWR Specifiche
| Produttore | |
| Serie | 74BCT |
| Tipo di logica | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Tensione di alimentazione | 4.5V ~ 5.5V |
| Numero di bit | 8 |
| Temperatura di esercizio | 0°C ~ 70°C |
| Tipo di montaggio | Surface Mount |
| Pacchetto / Custodia | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Pacchetto dispositivo fornitore | 24-SOIC |
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Produttore Serie 74BCT Tipo di logica Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops Tensione di alimentazione 4.5V ~ 5.5V Numero di bit 8 Temperatura di esercizio 0°C ~ 70°C Tipo di montaggio Through Hole Pacchetto / Custodia 24-DIP (0.300", 7.62mm) Pacchetto dispositivo fornitore 24-PDIP |
