SN74LVTH18646APM
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| Numero parte | SN74LVTH18646APM | ||||||||||||||||||
| PNEDA Part # | SN74LVTH18646APM | ||||||||||||||||||
| Descrizione | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | ||||||||||||||||||
| Produttore | Texas Instruments | ||||||||||||||||||
| Prezzo unitario |
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| Disponibile | 8.970 | ||||||||||||||||||
| Magazzini | Shipped from Hong Kong SAR | ||||||||||||||||||
| Consegna stimata | apr 21 - apr 26 (Scegli Spedizione rapida) | ||||||||||||||||||
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SN74LVTH18646APM Risorse
| Brand | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Numero di parte | SN74LVTH18646APM |
| Categoria | Semiconduttori › CI logici › Logica - Specialità Logica |
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SN74LVTH18646APM Specifiche
| Produttore | |
| Serie | 74LVTH |
| Tipo di logica | ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers |
| Tensione di alimentazione | 2.7V ~ 3.6V |
| Numero di bit | 18 |
| Temperatura di esercizio | -40°C ~ 85°C |
| Tipo di montaggio | Surface Mount |
| Pacchetto / Custodia | 64-LQFP |
| Pacchetto dispositivo fornitore | 64-LQFP (10x10) |
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