SN74ABT18652PM
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| Numero parte | SN74ABT18652PM |
| PNEDA Part # | SN74ABT18652PM |
| Descrizione | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP |
| Produttore | Texas Instruments |
| Prezzo unitario | Richiedi un preventivo |
| Disponibile | 11.328 |
| Magazzini | Shipped from Hong Kong SAR |
| Consegna stimata | nov 27 - dic 2 (Scegli Spedizione rapida) |
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SN74ABT18652PM Risorse
| Brand | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Numero di parte | SN74ABT18652PM |
| Categoria | Semiconduttori › CI logici › Logica - Specialità Logica |
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SN74ABT18652PM Specifiche
| Produttore | |
| Serie | 74ABT |
| Tipo di logica | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| Tensione di alimentazione | 4.5V ~ 5.5V |
| Numero di bit | 18 |
| Temperatura di esercizio | -40°C ~ 85°C |
| Tipo di montaggio | Surface Mount |
| Pacchetto / Custodia | 64-LQFP |
| Pacchetto dispositivo fornitore | 64-LQFP (10x10) |
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