SN74BCT8373ANT
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| Numero parte | SN74BCT8373ANT |
| PNEDA Part # | SN74BCT8373ANT |
| Descrizione | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP |
| Produttore | Texas Instruments |
| Prezzo unitario | Richiedi un preventivo |
| Disponibile | 6.696 |
| Magazzini | Shipped from Hong Kong SAR |
| Consegna stimata | nov 26 - dic 1 (Scegli Spedizione rapida) |
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SN74BCT8373ANT Risorse
| Brand | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Numero di parte | SN74BCT8373ANT |
| Categoria | Semiconduttori › CI logici › Logica - Specialità Logica |
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SN74BCT8373ANT Specifiche
| Produttore | |
| Serie | 74BCT |
| Tipo di logica | Scan Test Device with D-Type Latches |
| Tensione di alimentazione | 4.5V ~ 5.5V |
| Numero di bit | 8 |
| Temperatura di esercizio | 0°C ~ 70°C |
| Tipo di montaggio | Through Hole |
| Pacchetto / Custodia | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| Pacchetto dispositivo fornitore | 24-PDIP |
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