SN74BCT8245ANT
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| Numero parte | SN74BCT8245ANT | ||||||||||||||||||
| PNEDA Part # | SN74BCT8245ANT | ||||||||||||||||||
| Descrizione | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP | ||||||||||||||||||
| Produttore | Texas Instruments | ||||||||||||||||||
| Prezzo unitario |
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| Disponibile | 776 | ||||||||||||||||||
| Magazzini | Shipped from Hong Kong SAR | ||||||||||||||||||
| Consegna stimata | dic 7 - dic 12 (Scegli Spedizione rapida) | ||||||||||||||||||
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SN74BCT8245ANT Risorse
| Brand | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Numero di parte | SN74BCT8245ANT |
| Categoria | Semiconduttori › CI logici › Logica - Specialità Logica |
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SN74BCT8245ANT Specifiche
| Produttore | |
| Serie | 74BCT |
| Tipo di logica | Scan Test Device with Bus Transceivers |
| Tensione di alimentazione | 4.5V ~ 5.5V |
| Numero di bit | 8 |
| Temperatura di esercizio | 0°C ~ 70°C |
| Tipo di montaggio | Through Hole |
| Pacchetto / Custodia | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| Pacchetto dispositivo fornitore | 24-PDIP |
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