SN74ABT8652DWRE4
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| Numero parte | SN74ABT8652DWRE4 |
| PNEDA Part # | SN74ABT8652DWRE4 |
| Descrizione | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC |
| Produttore | Texas Instruments |
| Prezzo unitario | Richiedi un preventivo |
| Disponibile | 4.914 |
| Magazzini | Shipped from Hong Kong SAR |
| Consegna stimata | nov 24 - nov 29 (Scegli Spedizione rapida) |
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SN74ABT8652DWRE4 Risorse
| Brand | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. Numero di parte | SN74ABT8652DWRE4 |
| Categoria | Semiconduttori › CI logici › Logica - Specialità Logica |
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SN74ABT8652DWRE4 Specifiche
| Produttore | |
| Serie | 74ABT |
| Tipo di logica | Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers |
| Tensione di alimentazione | 4.5V ~ 5.5V |
| Numero di bit | 8 |
| Temperatura di esercizio | -40°C ~ 85°C |
| Tipo di montaggio | Surface Mount |
| Pacchetto / Custodia | 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Pacchetto dispositivo fornitore | 28-SOIC |
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Produttore ON Semiconductor Serie 100EP Tipo di logica Differential Receiver/Driver Tensione di alimentazione 3V ~ 5.5V Numero di bit - Temperatura di esercizio -40°C ~ 85°C Tipo di montaggio Surface Mount Pacchetto / Custodia 8-TSSOP, 8-MSOP (0.118", 3.00mm Width) Pacchetto dispositivo fornitore 8-TSSOP |
Produttore Serie 74LS Tipo di logica Delay Element Tensione di alimentazione 4.75V ~ 5.25V Numero di bit 6 Temperatura di esercizio 0°C ~ 70°C Tipo di montaggio Through Hole Pacchetto / Custodia 16-DIP (0.300", 7.62mm) Pacchetto dispositivo fornitore 16-PDIP |
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