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SN74ABT8652DWR

SN74ABT8652DWR

Solo per riferimento

Numero parte SN74ABT8652DWR
PNEDA Part # SN74ABT8652DWR
Descrizione IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
Produttore Texas Instruments
Prezzo unitario Richiedi un preventivo
Disponibile 4.590
Magazzini Shipped from Hong Kong SAR
Consegna stimata apr 27 - mag 2 (Scegli Spedizione rapida)
Guarantee Fino a 1 anno [PNEDA-Warranty] *

SN74ABT8652DWR Risorse

Brand Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. Numero di parteSN74ABT8652DWR
CategoriaSemiconduttoriCI logiciLogica - Specialità Logica

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SN74ABT8652DWR Specifiche

Produttore
Serie74ABT
Tipo di logicaScan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Tensione di alimentazione4.5V ~ 5.5V
Numero di bit8
Temperatura di esercizio-40°C ~ 85°C
Tipo di montaggioSurface Mount
Pacchetto / Custodia28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pacchetto dispositivo fornitore28-SOIC

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Tensione di alimentazione

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Pacchetto / Custodia

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Produttore

Microchip Technology

Serie

100EL

Tipo di logica

Differential Receiver

Tensione di alimentazione

3.3V, 5V

Numero di bit

1

Temperatura di esercizio

-40°C ~ 85°C

Tipo di montaggio

Surface Mount

Pacchetto / Custodia

8-TSSOP, 8-MSOP (0.118", 3.00mm Width)

Pacchetto dispositivo fornitore

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Produttore

Serie

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Tipo di logica

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Tensione di alimentazione

4.5V ~ 5.5V

Numero di bit

16

Temperatura di esercizio

-40°C ~ 85°C

Tipo di montaggio

Surface Mount

Pacchetto / Custodia

20-SOIC (0.209", 5.30mm Width)

Pacchetto dispositivo fornitore

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Tipo di logica

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Tensione di alimentazione

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Numero di bit

20

Temperatura di esercizio

-40°C ~ 85°C

Tipo di montaggio

Surface Mount

Pacchetto / Custodia

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Pacchetto dispositivo fornitore

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